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socket/ic插座/老化测试座
IC插座封装分类

WELLS-CTI QFN/LGA封装测试座/老化座 Test &Burn-in socket

WELLS-CTI Burn-In & Test Socket / WELLS-CTI测试座

WELLS-CTI 644系列测试座

 

790 Series

Open Top QFN, 0.4mm and 0.5mm pitch, Stamped Cantilever Contact, Active Alignment Feature

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-------Wellscti  QFN/LGA Test and Burn-In Socket------
WELLS-CTI 657系列测试座

 

776 Series

Open Top QFN/MLF, 0.5mm pitch, Buckle Beam Contact with Single Point Rounded Tip

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-------Wellscti   QFN/LGA Test and Burn-In Socket------
WELLS-CTI 672系列测试座

716 Series

Open Top LGA, 0.50mm pitch, Spring & Probe Contact

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-------Wellscti   QFN/LGA Test and Burn-In Socket------
WELLS-CTI 672系列测试座

717 Series

Clamshell LGA, 0.50mm pitch, Spring & Probe Contact

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-------Wellscti   QFN/LGA Test and Burn-In Socket------


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