EasyARM 2100

ARM产品

EasyARM2100是一款功能强大的32位ARM开发套件,采用的是PHILIPS的ARM7TDMI-S 核单片机LPC2114,具有JTAG调试,ISP编程等功能。板上提供了一些键盘、LED、RS232等常用功能部件,帮助用户学习32位单片机从简单的开始,一步一步的过渡到32位ARM嵌入式系统开发领域。
LPC2114/2124/2119/2129/2194是可加密的ARM芯片,具有零等待128K/256K字节的片内FLASH,16K的SRAM,无需扩展存储器,使系统更简单、更可靠;内部具有UART、硬件I2C、SPI、PWM、ADC、定时器、CAN(LPC2119/2129/2194)等众多外围功能部件;64管脚LQFP封装,体积更小;3.3V和1.8V系统电源,内部PLL时钟调整,功耗更低。
 

功能特点
-使用CPU PACK,可以使用多种兼容芯片(LPC2114/2124/2119/2129/2194等),附送空CPU PCAK一块;
-标配PHILIPS的LPC2114,可进行JTAG仿真调试,支持ADS1.2集成开发环境;
-完全自主设计的软硬件、拥有自主版权的JTAG仿真技术,用户使用没有后顾之忧;
-可选CAN接口板,方便组装现场总线;
-所有I/O全部引出,可以和用户的外部电路连接搭配;
-4个独立LED、6个独立键盘控制;
-具有RS232转换电路,可与上位机进行通讯;
-可以与标准串行modem直接接口,方便远程通讯;
-具有I2C器件、SPI器件接口器件;
-具有滤波电路,PWM输出可实DAC转换功能;
-板上的功能部件可使用跳线器连接或断开连接;
-提供基于PC的人机界面,方便调试实时时钟、串口通信等;
-提供详细的使用说明书,实验例程

 

EasyJTAG仿真器性能介绍和特性
EasyJTAG是一款高性能/低价格的ARM内核仿真器,内部采用了最新Flash更新技术,可以使EasyJTAG不断支持新的ARM内核仿真。EasyJTAG采用ARM公司的业界仿真通讯接口协议RDI 1.51,可以方便的同任何采用RDI接口的IDE调试环境无缝嵌接,是目前国内性能最稳定,功能最强,支持芯片最多(陆续支持)的低价格ARM内核仿真器。

特性:

-最新Flash更新技术,方便用户在线升级;
-采用RDI通讯接口,无缝嵌接ADS1.2和其它采用RDI接口的IDE调试环境;
-高达1M速率的JTAG时钟驱动;
-采用同步Flash刷新技术(synFLASH),同步下载用户代码到Flash中,即下即调;
-采用同步时序控制技术(synTIME),仿真可靠稳定;
-支持Thumb指令和32位ARM指令集的调试;
-影射寄存器窗口,方便用户查看/修改寄存器数值;
-微型体积设计,方便用户灵活使用;
-支持LPC2104/LPC2105/LPC2106、LPC2114/LPC2124/LPC2119/LPC2129/LPC2194/LPC2210/LPC2212/LPC2214/LPC2290/LPC2292/LPC2294 ARM微控制器。
在上述的特性中,“RDI标准接口/同步Flash刷新技术/影射寄存器窗口”3项技术是国内ARM仿真器设计最领先的3种技术,采用这3种技术的ARM仿真器将给用户带来如下激动人心的性能:
RDI接口 是ARM公司提出的调试接口标准,主要用于ARM芯片的JTAG仿真。由于各个IDE厂商使用的调试接口各自独立,硬件无法进行跨平台的调试。现在众多的IDE厂家都逐步采用标准RDI作为ARM仿真器的调试接口,因此使跨平台的硬件调试成为可能。EasyJTAG由于使用标准RDI调试接口,因此在任何使用标准RDI接口的IDE调试环境中都可以使用,例如ARM公司的ADS1.2/IAR公司的EWARM 3.30 。


注意:对于使用RDI接口的调试环境出现的问题,EasyJTAG的技术支持只负责ADS1.2出现的问题。对于其它IDE出现的RDI兼容性/稳定性/速度等方面的问题,EasyJTAG不负责技术支持且并不承当任何责任。
同步Flash刷新技术(synFLASH) 是我们最先提出并应用于ARM仿真器的使用上。

 

实验课题
-可进行GPIO的控制实验,如LED闪烁控制、键盘输入、蜂鸣器控制、模拟SPI等;
-可进行外部中断实验,学习向量中断控制器(VIC);
-定时器控制实验,如定时控制LED、匹配比较输出等;
-使用RS232转换电路,完成UART通讯实验;
-使用板内的CAT24WC02,完成I2C总线的实验;
-使用74HC595芯片,实现SPI接口数据发送、接收实验;
-具有PWM输出测试点及滤波电路,实现PWM输出、PWM DAC实验;
-实时时钟控制实验;
-WDT及低功耗控制实验;
-REMAP、PLL操作实验;
-ADC数据采集试验;

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